尼康X-TEk Xray XTV160-蘇州圣全科技有限公司

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XT V160尼康 X-TEK xray檢測設備
尼康 X-TEK xray檢測設備 XT V 160系統范圍具有亞微米特征識別功能，可滿足當今對復雜電子元件進行高性能、無損檢測的需要。尼康Xi Nanotech X射線源與平板探測器相配，可產生清晰的圖像質量，并在2D和3D檢測之間實現無縫轉換。這些系統能夠直觀地使用和利用業界的軟件，最大限度地提高所有操作員的生產效率，同時減少培訓需求。

更新時間：2023-01-12型號：XT V160瀏覽量：1015

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